Patent, Faydalı Model ve Entegre Devre Topoğrafyası (Sınai Mülkiyet Hakları Uygulamaları Serisi Kitap: 2) ,

Kitabın Künyesi:

Yazar: Prof. Dr. Habip Asan / Dr. Ayben Işılay Özdoğan

ISBN: 978-605-74223-3-0

Yayın Tarihi: Eylül 2021

Baskı Sayısı: 1. Baskı

Ebat: 16 x 24

Kapak Türü: Ciltli

Sayfa Sayısı: 209

120.00 96.00

Not: Bu kitap ön satışta olup, stoklarımıza giriş tarihi 20 Eylül 2021’dir. Siparişleriniz bu tarihten sonra kargoya verilecektir.

Kitap Hakkında:

Sınai Mülkiyet Hakları Uygulamaları Serisinin bu kitabı; ekonomik kalkınmanın en önemli göstergelerinden olan patent, faydalı model ve entegre devre topoğrafyası ile ilgilidir. Bu alanlarda yapılacak başvurularda, güçlü bir koruma elde edilebilmesi için iyi bir strateji oluşturulmalı ve başvuru öncesinde detaylı çalışmalar yapılmalıdır.

Kitapta, başvurular için gerekli ön bilgilerden ve başvuru süreçlerinden bahsedilmiştir. Aynı zamanda, salt patent hukukunu içeren kitaplardan farklı olarak pratikte yararlanılabilecek bilgiler de verilmiş ve hâlihazırda var olan başvurulardan örnekler sunulmuştur. Ayrıca kitapta, uluslararası ofis uygulamaları ve mahkeme kararlarını içeren bilimsel örneklere de yer verilmiştir. Bu alanda çalışan, kariyer hedefleyen veya konuya ilgi duyan herkesin yararlanabileceği bir kaynak oluşturulmuştur.